針對(dui)玻璃微觀形貌測(ce)量、硅(gui)晶體微結構分析、陶瓷材料劃痕(hen)深度測量、鋁制品面(mian)粗糙度測(ce)量、鈦合(he)金-高(gao)精密拋光(guang)表面紋(wen)理分析、鋼制材料-軸類表面、鈷鉻拋(pao)光表面分析在生產過程(cheng)中客(ke)戶的某(mou)核心零件的表面的粗(cu)糙度要求*，使用傳統的粗(cu)糙度輪廓儀(yi)檢測有(you)以下問題：
1、精度滿足不(bu)了，測量(liang)值往(wang)往(wang)偏小測量(liang)合格的(de)產品總會出(chu)問題；
2、測(ce)(ce)量(liang)完成后(hou)總會(hui)劃傷零(ling)件，這(zhe)樣被測(ce)(ce)零(ling)件往往會(hui)報廢，客(ke)戶很難測(ce)(ce)試(shi)出零(ling)件粗糙(cao)度變(bian)化(hua)對儀器性能(neng)的影響。客(ke)戶為了嚴(yan)格控制產品質量(liang)要求測(ce)(ce)量(liang)頻次很高(gao)，這(zhe)樣就會(hui)帶來更多的廢品。
解決方案(an)：
Tr_Scan的出現解決了(le)困擾了(le)客戶多年的問題，Tr_Scan 納米級光學(xue)測量(liang)技術，測量(liang)精度非(fei)常高*客戶精度需求，非(fei)接(jie)觸測量(liang)*不會(hui)損傷零件(jian)，表(biao)面無損分析零件(jian)粗(cu)糙度，同時滿足微觀形狀、尺(chi)寸(cun)的測量(liang)。
產(chan)品特點(dian)：
系統采用瑞(rui)士TRIMOS數(shu)字全(quan)息三(san)維顯微測量技術（DHM），廣泛應用于高精(jing)度(du)微(wei)觀表面檢查。與傳統(tong)(tong)非(fei)接(jie)觸測(ce)量(liang)技術相比(bi)，測(ce)量(liang)速度(du)快，對震(zhen)動不敏感(gan)，實現(xian)三維(wei)形(xing)貌(mao)納米(mi)級(ji)測(ce)量(liang)。模塊(kuai)化的設(she)計理念，可配置共(gong)焦(jiao)顯微(wei)系統(tong)(tong)，探針測(ce)量(liang)系統(tong)(tong)，傳感(gan)器直接(jie)更(geng)換(huan)，方便快捷，滿(man)足不同的應用領域(yu)。
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