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德國Werth工業CT測量機介紹
點擊次(ci)數:2876 更新時(shi)間(jian):2021-11-16 打印本頁面 返回

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1、德國WERTH工業CT測量機設備原理及設備用途

在真空環境(jing)的(de)(de)X射線管內,其陰(yin)極鎢絲(si)受(shou)熱(re)釋放大(da)量(liang)(liang)電子,逃逸電子通過(guo)加速電場后快速轟(hong)擊陽極靶(ba),從(cong)而產生大(da)量(liang)(liang)X射線能(neng)譜(pu)和熱(re)量(liang)(liang)。X射線穿(chuan)透工(gong)件(jian)(jian)時從(cong)而導致(zhi)能(neng)量(liang)(liang)的(de)(de)衰(shuai)減(jian),被測(ce)工(gong)件(jian)(jian)中(zhong)的(de)(de)高密度物(wu)質(zhi)吸收大(da)量(liang)(liang)的(de)(de)X射線能(neng)譜(pu),而低密度的(de)(de)物(wu)質(zhi)則直接(jie)被穿(chuan)透。X射線接(jie)收器(探(tan)測(ce)板)根(gen)據X射線能(neng)譜(pu)的(de)(de)衰(shuai)減(jian)從(cong)而形成(cheng)相關的(de)(de)2D圖像。軟(ruan)件(jian)(jian)根(gen)據工(gong)件(jian)(jian)在360°旋(xuan)轉(zhuan)過(guo)程中(zhong)采取的(de)(de)一系列2D圖像,經過(guo)特殊算法重構出(chu)其實際(ji)體素。

一臺設備實現兩種技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu),三坐標測(ce)(ce)量技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)及X射線斷層掃描(miao)技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu),通(tong)過三坐標測(ce)(ce)量技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)保(bao)(bao)證(zheng)各軸向穩定的精(jing)度,通(tong)過X射線技(ji)(ji)術(shu)(shu)(shu)實現產品內外部掃描(miao),既(ji)能實現測(ce)(ce)量的高(gao)精(jing)度,更能保(bao)(bao)證(zheng)測(ce)(ce)量的全面性。

通過CT掃描、圖形(xing)(xing)處(chu)理成像生成3D重(zhong)建模型,實(shi)現(xian)產品360°范(fan)圍(wei)無(wu)損可視化全尺(chi)寸(cun)及(ji)形(xing)(xing)位(wei)公(gong)差(cha)等(deng)(deng)準確測(ce)量,同時可進(jin)行內(nei)(nei)部缺陷檢(jian)測(ce)、裝配(pei)內(nei)(nei)部結構評估、材料結構分(fen)析(xi)、內(nei)(nei)部微觀尺(chi)寸(cun)測(ce)量、編(bian)程自動尋邊測(ce)量等(deng)(deng),對(dui)(dui)塑(su)料、鋼材料、鋁材料、非(fei)金屬材料等(deng)(deng)進(jin)行檢(jian)測(ce),可實(shi)現(xian)對(dui)(dui)點、線、圓、圓柱(zhu)、圓錐等(deng)(deng)基本元素的(de)測(ce)量及(ji)構建,支持(chi)垂(chui)直度(du)(du)、平行度(du)(du)、位(wei)置(zhi)度(du)(du)等(deng)(deng)形(xing)(xing)位(wei)公(gong)差(cha)評估、3D最佳擬合(he)及(ji)公(gong)差(cha)擬合(he)軟件進(jin)行輪廓匹配(pei)分(fen)析(xi)和三維(wei)CAD工件公(gong)差(cha)比對(dui)(dui)等(deng)(deng)。

2、德國WERTH工業CT測量機主要技術指標

2.1、適用范圍:

在無損測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)產品或(huo)工件的條件下,適于(yu)對(dui)金(jin)屬、非金(jin)屬、復(fu)合材料零部件實現內(nei)外部尺(chi)寸(cun)高(gao)精(jing)密測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)及缺(que)陷(xian)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)分(fen)析(xi),以(yi)二維斷層圖(tu)(tu)像或(huo)三維立(li)體圖(tu)(tu)像的形式直觀地顯示被(bei)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)物體內(nei)部結構、裝配組(zu)成以(yi)及尺(chi)寸(cun)和缺(que)陷(xian)情況,通過測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)軟件在產品或(huo)工件上建立(li)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)坐標系統(tong),從而確(que)定被(bei)測(ce)(ce)(ce)(ce)產品工件內(nei)部缺(que)陷(xian)的尺(chi)寸(cun)大小(xiao),實現復(fu)雜零部件內(nei)外尺(chi)寸(cun)高(gao)精(jing)度(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)和缺(que)陷(xian)分(fen)析(xi)。

2.2、X射線源:

2.2.1、X射線管最(zui)大電壓:300KV;最(zui)大功率:80W

2.2.2、X射線管燈絲工作時(shi)間(jian):1500h-2000h,更換時(shi)可即插即用。

2.3、設備精度:

2.3.1、分辨率:3μm

2.3.2、測(ce)量精度(du):(3.5+L/100)μm,L為待測(ce)尺寸數值,單位mm,測(ce)量精度(du)符合(he)國際(ji)通用參考標準(zhun)VDI2630;

2.4、探測器

2.4.1、有效面積:400mm×400mm;

2.4.2、像素尺寸:200μm×200μm;

2.4.3、射線源到探(tan)測器距離:1250mm;

2.4.4、溫(wen)(wen)度穩定性:設備內部配置控溫(wen)(wen)系統(tong),能夠(gou)實時進(jin)行溫(wen)(wen)度補償;

2.4.5、抗輻射能力:≥300kV。

2.5、檢測范圍

2.5.1、最大樣品(pin)直(zhi)徑:470mm;

2.5.2、最大樣品高度:667mm;

2.5.3、最大樣品重量:40kg;

2.6、機械硬件移(yi)動

2.6.1、機(ji)械系統移動精度:MPE-E:(4.5+L/75)μm,L為待(dai)測尺寸數值,單位mm,

2.6.2、機械系(xi)統系(xi)統行程(cheng):X±400,Y:400,Z:800;

2.7、安(an)全防(fang)護系統

2.7.1、采用鉛鋼防護,全封閉安(an)全屏蔽室;

2.7.2、提供觀察窗口

2.7.3、安全防護屏(ping)蔽室:設備具有(you)自鎖功能,只(zhi)有(you)在(zai)關閉所(suo)有(you)外壁,X射線才能開(kai)啟,一(yi)旦開(kai)啟任(ren)何一(yi)扇外壁,X射線將自動關閉,并(bing)有(you)開(kai)關警示燈顯示,滿足(zu)所(suo)有(you)相關安全保護功能;

2.7.4、X射線(xian)警告燈,當X射線(xian)開啟(qi)時(shi)(shi),自動亮燈,起到警示(shi)作(zuo)用(yong),當出現異常情(qing)況時(shi)(shi),具有報(bao)警功能;

2.7.5、X射線(xian)漏射率 lt;1uSv/h,符合國家和國際標準(zhun)共同標準(zhun);

2.8、掃描重構軟件(jian)功能

2.8.1、三維CT采集(ji)和重建功能,軟(ruan)件投(tou)影采集(ji)和數(shu)據重建可同時(shi)進行;

2.8.2、支持程序(xu)啟(qi)動自校功(gong)能(neng);

2.8.3、探測器具(ju)有校準功(gong)能;

2.8.4、自動高(gao)分辨率圖像(xiang)(xiang)優化功能,通過預先對多個位置進行圖像(xiang)(xiang)采集,計(ji)算掃描過程(cheng)中由于(yu)溫(wen)度(du)漂移導致的形狀誤差,提高(gao)圖像(xiang)(xiang)質量;

2.9、分析軟件(jian)功能(neng)

2.9.1、高精度直(zhi)接測(ce)量(liang)系(xi)統(tong),要求可(ke)以基本尺(chi)寸(cun)測(ce)量(liang)、形位尺(chi)寸(cun)測(ce)量(liang);

2.9.2、掃描數(shu)據(ju)與標準模(mo)型進行比對分析(xi)功能(neng);

2.9.3、高(gao)分(fen)(fen)辨率(lv)擴展掃(sao)描(miao)CT功能,可(ke)實現(xian)對掃(sao)描(miao)數(shu)據的分(fen)(fen)析處(chu)理,包括圖像(xiang)可(ke)視(shi)化(hua)、編輯處(chu)理、區域分(fen)(fen)割提取(qu),支(zhi)(zhi)持多視(shi)角模(mo)式顯(xian)示(shi),支(zhi)(zhi)持透視(shi)、表面模(mo)式、體渲染(ran)模(mo)式等,支(zhi)(zhi)持圖像(xiang)優(you)化(hua)處(chu)理;

2.9.4、具備重構、測(ce)量、缺陷(xian)檢測(ce)分析等;

2.9.5、具備點、線、面、圓(yuan)柱、圓(yuan)錐等測量創建及構建(提供相應技術(shu)證明文件)、具備垂直度、平行度、位置度等形位公差評價;



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