| 型 號： | 德國WERTH TOMO |
| 所屬分類： | X射線工業CT斷層掃描測量儀 |
| 報 價： | 市場價: |
工業CT掃(sao)描儀可實現產品(pin)無損(sun)可視化準確(que)測(ce)量，并可選配(pei)光(guang)學、光(guang)纖、探針、激光(guang)掃(sao)描等(deng)多種傳感器。對工件內外部所有結(jie)構尺寸(cun)全面的高(gao)精(jing)密測(ce)量，同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復合材料、金(jin)屬等(deng)多種材質制成的產品(pin)進(jin)行無損(sun)尺寸(cun)測(ce)量和裝配(pei)評估等(deng)。
Werth*家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量系統，工(gong)業CT掃(sao)描儀可實現產品無損可視化準確測量，并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量，同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶瓷、復合材料、金屬等多種材質制成的產品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時，保證了高品質的要求。此工業CT掃描儀榮獲2005年度歐洲模具設計金獎。
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主要特點：
◆ *家將X射線斷(duan)層掃描成像技術整合(he)到三坐標測量系統，實現復雜(za)部件高精度內外(wai)尺(chi)寸全面(mian)測量
◆ 可選配(pei)第二個Z軸，配(pei)置其他傳感(gan)器（光學、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公司技術復合式傳感器技術，進一步保證 CT測量數據更(geng)準確
◆ 堅固的(de)花崗巖基座(zuo)，保證機器具(ju)有高(gao)穩定性
◆ 高(gao)精密(mi)機械軸(zhou)承技術(shu)及線性導軌系(xi)統，確(que)保實現zui 高(gao)精度的(de)測(ce)量
◆ 無(wu)論從(cong)設計(ji)還(huan)是結構，測量機*并超出X射線(xian)使用(yong)安全標準
◆ 基于(yu)Werth公司優異的(de)圖形(xing)處(chu)理及3D重構技(ji)術，測量速(su)度更快(kuai)
◆ Werth公司技術的X射線傳感器獨立校準系統(tong)
◆ Werth公司技術的柵(zha)格斷層掃描技術：
精密測(ce)量(liang)微(wei)小部(bu)件
掃描(miao)更大尺寸工件，提高分辨率
擴展測量范圍(wei)
◆ 測(ce)量(liang)軟(ruan)件(jian)可(ke)快速3D重構，也可(ke)進行2D測(ce)量(liang)
◆ 測量工件內部尺寸(cun)的同時，也可(ke)實現(xian)材(cai)質(zhi)缺(que)陷分(fen)析(xi)
◆ 選用(yong)廣泛應用(yong)的WinWerth軟(ruan)件(jian) (德(de)國國家(jia)計量(liang)院PTB長(chang)度標準認證) ，界面(mian)友好(hao)，操作(zuo)簡單
◆ 可使(shi)用(yong)*擬合(he)Bestfit及公差擬合(he)Tolerancefit軟件(jian)進行(xing)輪廓匹配分析及三(san)維CAD工件(jian)公差比對
◆ 廣(guang)泛應用于復(fu)雜尺寸測量，*評(ping)估，逆向工程，質(zhi)量控制等
應用領域: 模具行(xing)業(ye)、逆向工程、汽車行(xing)業(ye)、航空航天、精密機械(xie)加(jia)工、船舶等
技術參數：
型 號 | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大測量(liang)工件尺(chi)寸(直徑) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高(gao)度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大允許(xu)誤差(cha) (用(yong)CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大(da)允許(xu)誤差(E1:單軸精度(du)) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平面精度(du)) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射線(xian)源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射(she)線探測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線探(tan)測(ce)器尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分(fen)辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度(du) | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工(gong)作臺承重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電源(yuan) | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣(qi)壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀(yi)器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據標準(zhun)ISO 10360和VDI/VDE 2617，使用TP200, WFP測(ce)量或(huo)CT傳感器(qi)選擇同等及更高精度(du)探(tan)針修(xiu)正或(huo)光(guang)學傳感器(qi)選用同等及更高精度(du)探(tan)針修(xiu)正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射線穿透能力：
Werth獨有的用于高精度、高分辨率測量的穿透型標靶射線源。此(ci)標靶在高管(guan)電(dian)壓（如300KV）和大管(guan)電(dian)流的情況下能(neng)夠長時間穩(wen)定(ding)地保持微米級的焦點尺(chi)寸，這樣就能(neng)用微米級焦點的X射線快(kuai)速的高精度(du)、高分(fen)辨率進行(xing)測量高密度(du)（如鋼）較大(da)尺寸的零件。
| 類別 | TomoScope | ||||
| 射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
| 鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
| 鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
| 塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
| 射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
| 光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm
| 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透(tou)射) | 0.00X mm – 0.X mm (反射) ≤ 0.00X mm (透射) |
應(ying)用(yong)實例：
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