| 型 號： | TomoScope X |
| 所屬分類： | X射線工業CT斷層掃描測量儀 |
| 報 價： | 市場價: |
德(de)國WerthTomoScope X射線坐(zuo)標測量(liang)機
Werth*家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量(liang)(liang)系統，實現產品(pin)無(wu)損(sun)(sun)可視化準(zhun)確測量(liang)(liang)，并可選配光學、光纖、探針(zhen)、激光掃描等多(duo)種(zhong)傳感器。對工件內(nei)外部所(suo)有結構尺(chi)寸全面的高精密測量(liang)(liang)，同時可實現工件材質的缺陷分析。可對塑料、陶(tao)瓷、復合材料、金屬等多(duo)種(zhong)材質制成的產品(pin)進(jin)行無(wu)損(sun)(sun)尺(chi)寸測量(liang)(liang)和裝配評估等。壓縮測量(liang)(liang)周期的同時，保證(zheng)了高品(pin)質的要求(qiu)。此機(ji)榮獲2005年度歐洲模具設計金獎。
Tomo測量機主要特點：
◆ *家將(jiang)X射線斷層(ceng)掃描成像技(ji)術整合到三坐標測量(liang)系統，實現復雜部件(jian)高(gao)精度內外尺寸全面測量(liang)
◆ 可選配第二個Z軸，配置其他(ta)傳感器（光學、探 針、光纖、激光等）
◆ Werth公(gong)司技(ji)術復(fu)合式傳感(gan)器技(ji)術，進一(yi)步(bu)保證 CT測量數據更(geng)準確
◆ 堅(jian)固(gu)的花崗巖基座，保(bao)證機器具有高穩定性
◆ 高(gao)精(jing)密機械軸承技術(shu)及線性導(dao)軌系(xi)統(tong)，確保(bao)實(shi)現zui 高(gao)精(jing)度(du)的(de)測量
◆ 無論從設計還是(shi)結構(gou)，測量機*并超出X射線使用(yong)安全標準
◆ 基于(yu)Werth公司優異的圖形處理及3D重構技術，測量(liang)速度更(geng)快 ;
◆ Werth公司技術的(de)X射線傳(chuan)感器獨立校準系(xi)統
◆ Werth公司技(ji)術的柵格斷層掃(sao)描技(ji)術：
精密(mi)測量微小部件
掃描(miao)更大尺(chi)寸工件，提高分辨率
擴展測量范(fan)圍
◆ 測(ce)量(liang)軟件(jian)可(ke)快速3D重構，也可(ke)進行2D測(ce)量(liang)
◆ 測量工件內部尺寸的(de)同(tong)時，也可實現材質缺陷(xian)分析
◆ 選(xuan)用廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計(ji)量院PTB長度標準認證) ，界(jie)面友好，操作簡單
◆ 可使用(yong)*擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件(jian)進行輪廓(kuo)匹配分(fen)析及三維CAD工件(jian)公差比(bi)對
◆ 廣泛應用于復雜尺寸測量，*評估，逆向工(gong)程，質量控(kong)制等
應用領域(yu): 模(mo)具行業(ye)(ye)、逆向工程(cheng)、汽車行業(ye)(ye)、航空航天、精密機械(xie)加(jia)工、船舶等
技(ji)術參(can)數：
型 號(hao) | TomoScope HA | TomoCheck | TomoScope HV Compact | TomoScope HV 500 |
zui大(da)測(ce)量工件尺寸(直徑(jing)) | 90mm | 90/200/200mm | 180/350mm | 360/500mm |
zui大測量高度 | 285mm | 240/360/400mm | 180/520mm | 380/700mm |
zui大(da)允許(xu)誤差(cha) (用CT傳感器) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
zui大(da)允許誤差(E1:單軸(zhou)精度) | (2,5+L/120) µm | (0,5+L/900)µm | (2,5+L/120) µm | (2,5+L/120) µm |
(E2:平(ping)面精度(du)) | (2,9+L/100) µm | (0,7+L/600) µm | (2,9+L/100) µm | (2,9+L/100) µm |
(E3:空間精度) | (4,5+L/75) µm | (1,5+L/500) µm | (4,5+L/75) µm | (4,5+L/75) µm |
X射線源可選 | 130/150/190kV | 130/150/190/225kV | 225/300/320kV | 225/300/320/450kV |
X射線探(tan)測器像素 | 1024x1024 | 1024x1024 | 2048x2048 | 2048x2048 |
X射線(xian)探(tan)測器(qi)尺寸 | 50x50mm | 50x50mm | 200x200mm | 400x400mm |
分辨率 | 0.1µm | 0.1/0.01µm | 0.1µm | 0.1µm |
定位(wei)速度 | 150mm/s | 60mm/s | 150mm/s | 150mm/s |
加速度(du) | 300mm/s2 | 250 mm/s2 | 350 mm/s2 | 350 mm/s2 |
工作臺(tai)承(cheng)重 | 2kg | 10kg | 40kg | 40kg |
電(dian)源 | 230V +/-10% | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE | 3x400V/N/PE |
氣壓 | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar | 7-10bar |
儀器自重 | 3000kg | 6000kg | 11000kg | 13000kg |
1). 依據(ju)標準ISO 10360和VDI/VDE 2617，使(shi)用(yong)(yong)TP200, WFP測量(liang)或(huo)CT傳感器選擇(ze)同(tong)(tong)等及更高精(jing)度(du)探(tan)(tan)針修(xiu)正或(huo)光學傳感器選用(yong)(yong)同(tong)(tong)等及更高精(jing)度(du)探(tan)(tan)針修(xiu)正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg
X射線穿透能(neng)力(li)：
Werth獨(du)有(you)的(de)用于高精(jing)度、高分辨率測量的(de)穿(chuan)透型標靶射(she)線(xian)源。此標靶在(zai)高管電(dian)壓（如300KV）和大管電(dian)流的(de)情況下能夠長時間穩定地(di)保持微米(mi)級的(de)焦(jiao)點尺寸，這樣就能用微米(mi)級(ji)焦點的(de)X射線快速的(de)高精度、高分辨(bian)率(lv)進行測量高密度（如鋼(gang)）較大尺寸的(de)零(ling)件。
| 類別 | TomoScope | ||||
| 射線源功率 | 130KV | 150KV | 190KV | 225KV | 300KV |
| 鋼/陶瓷 | 5mm | 8mm | 25mm | 40mm | 70mm |
| 鋁 | 30mm | 50mm | 90mm | 150mm | 250mm |
| 塑料 | 90mm | 130mm | 200mm | 250mm | 450mm |
| 射線管 | 關 | 關 | 開 | 開 | 開 |
| 光源類型 | 反射 | 反射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸 | 0.00Xmm-0.Xmm | 0.00Xmm-0.Xmm
| 0.00X mm – 0.X mm (反(fan)射) ≤ 0.00X mm (透射) | 0.00X mm – 0.X mm (反(fan)射) ≤ 0.00X mm (透(tou)射(she)) | 0.00X mm – 0.X mm (反(fan)射) ≤ 0.00X mm (透射) |
應用(yong)實例(li)：
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