Schwenk KS塞規
用于測量孔與參考點之間的位置偏差
用于測量位置度偏差的塞規
-用于確(que)定孔(如(ru)馬達(da)組件(jian)與(yu)齒(chi)輪箱(xiang)上)與(yu)參考孔之間的中(zhong)心偏差(cha)
-通過H3配合的導桿進行(xing)定位
-帶楔形塊或(huo)片段(duan)分支的測(ce)頭
-指示(shi)表垂(chui)直或水平布(bu)局,交(jiao)貨不帶指示(shi)表
您可以(yi)從丹青公司一(yi)站式(shi)(shi)(shi)采購所有長(chang)度(du)(du)(du)(du)計量、校(xiao)準、檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)設備,包括:數(shu)顯(xian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)高儀(yi)(yi)、萬能測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)長(chang)機、螺紋綜合測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量機、量塊比較儀(yi)(yi)、立(li)式(shi)(shi)(shi)阿貝(bei)比 長(chang)儀(yi)(yi)、球(qiu)徑測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量儀(yi)(yi)、全自動表類(lei)檢(jian)查儀(yi)(yi)、垂直度(du)(du)(du)(du)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi)、直線(xian)度(du)(du)(du)(du)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi);復合式(shi)(shi)(shi)光學(xue)三坐標測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量機、投(tou)影(ying)儀(yi)(yi)、三坐標、二坐標測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量機、葉(xie)片類(lei)多軸快速光學(xue)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量機; 非接觸粗糙度(du)(du)(du)(du)(微觀形(xing)貌)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量儀(yi)(yi)、臺(tai)式(shi)(shi)(shi)輪廓粗糙度(du)(du)(du)(du)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)量儀(yi)(yi)、便攜式(shi)(shi)(shi)粗糙度(du)(du)(du)(du)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi);圓(yuan)柱度(du)(du)(du)(du)儀(yi)(yi);關節臂;精(jing)密轉臺(tai);發(fa)動機缸體檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)儀(yi)(yi);軸類(lei)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系統、凸輪軸曲軸 檢(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)系統、對(dui)刀(dao)儀(yi)(yi)、工業內(nei)(nei)窺鏡、電(dian)(dian)子(zi)水平儀(yi)(yi)、氣泡式(shi)(shi)(shi)水平儀(yi)(yi)、電(dian)(dian)子(zi)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)傾傳感器、電(dian)(dian)子(zi)角度(du)(du)(du)(du)儀(yi)(yi);千分(fen)/百分(fen)表、數(shu)顯(xian)卡尺(chi)、內(nei)(nei)/外徑千分(fen)尺(chi)、現場用萬能量具系列; 洛氏(shi)、布氏(shi)、維氏(shi)、顯(xian)微硬度(du)(du)(du)(du)計,標準硬度(du)(du)(du)(du)塊等產品。