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工業CT斷層掃描測量機

型    號:Werth TomoScope
所屬分類:X射線工業CT斷層掃描測量儀
報    價: 市場價:
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工(gong)業CT斷層掃描測量機可(ke)實現產(chan)品(pin)無(wu)損可(ke)視化準確測量,并可(ke)選配光(guang)學、光(guang)纖、探針、激光(guang)掃描等多種(zhong)傳(chuan)感器。對(dui)工(gong)件(jian)內外部所有結構尺寸全面的(de)高精密測量,同時可(ke)實現工(gong)件(jian)材質的(de)缺(que)陷(xian)分析(xi)。可(ke)對(dui)塑料(liao)、陶瓷(ci)、復合材料(liao)、金屬等多種(zhong)材質制成的(de)產(chan)品(pin)進行無(wu)損尺寸測量和裝配評估等。

Werth TomoScope工業CT斷層掃描測量機的詳細資料:



Werth*家將X射線掃描成像技術整(zheng)合到三坐標測量系統,工業CT斷層掃描測量機可(ke)(ke)實現產品(pin)無損可(ke)(ke)視化準確測(ce)量(liang)(liang),并可(ke)(ke)選配光學(xue)、光纖、探針、激光掃(sao)描等(deng)多種傳感(gan)器(qi)。對工件內外部(bu)所(suo)有結(jie)構(gou)尺(chi)寸全面的(de)高精密測(ce)量(liang)(liang),同(tong)時可(ke)(ke)實現工件材質的(de)缺陷分(fen)析。可(ke)(ke)對塑料、陶瓷、復(fu)合材料、金屬等(deng)多種材質制成的(de)產品(pin)進行無損尺(chi)寸測(ce)量(liang)(liang)和裝配評估等(deng)。壓縮測(ce)量(liang)(liang)周期的(de)同(tong)時,保證了高品(pin)質的(de)要求。此工業CT斷層掃描測量機榮獲2005年度歐洲(zhou)模具設計金獎。

 

想要了解更多工業CT斷層掃描測量機,工業CT測量儀信息,可聯系我們。



主要特點(dian)
  *家將X射線(xian)斷(duan)層掃描成像(xiang)技術整合到三坐標測量系統,實現復雜(za)部件高精度內外尺寸全面測量
  可選配第二(er)個Z軸,配置(zhi)其他傳感器(光學、探  針(zhen)、光纖、激光等)
Werth公司技術復合式傳感(gan)器技術,進一步保證 CT測量數據更準確(que)
堅(jian)固的花(hua)崗巖基座(zuo),保證機(ji)器具有高(gao)穩定(ding)性
高(gao)(gao)精(jing)密機械軸承(cheng)技術及線性導軌系統,確保實現zui  高(gao)(gao)精(jing)度的測量
無論從設計還是結(jie)構,測量機(ji)*并(bing)超(chao)出X射線使用安全(quan)標準
基(ji)于(yu)Werth公司優(you)異的圖形(xing)處理(li)及3D重構技術,測量速度更(geng)快 
  Werth公司技術的X射線傳感器(qi)獨立校準系統
  Werth公司技(ji)術(shu)的柵(zha)格(ge)斷層(ceng)掃描技(ji)術(shu):
        精(jing)密測(ce)量微小部件
        掃描更大尺寸工件,提高分辨率
        擴展測量范(fan)圍
  測(ce)量(liang)軟件可快速3D重構(gou),也可進行2D測(ce)量(liang)
  測(ce)量工件內部尺寸的(de)同時(shi),也可實現(xian)材質(zhi)缺(que)陷(xian)分析
  選用廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標準認證) ,界面友好,操作簡(jian)單
  可使用*擬(ni)合(he)Bestfit及(ji)公(gong)差擬(ni)合(he)Tolerancefit軟件進行輪廓(kuo)匹配分析(xi)及(ji)三(san)維(wei)CAD工件公(gong)差比對
  廣(guang)泛(fan)應用于復雜尺寸(cun)測量,*評估(gu),逆向(xiang)工程,質(zhi)量控制等

應用領域: 模具(ju)行(xing)業(ye)、逆向工(gong)(gong)程、汽車行(xing)業(ye)、航空航天(tian)、精密(mi)機械加工(gong)(gong)、船舶(bo)等

 

技術(shu)參數

   

TomoScope HA

TomoCheck

TomoScope

HV Compact

TomoScope HV 500

zui大測量工件尺寸(cun)(直徑)

90mm

90/200/200mm

180/350mm

360/500mm

zui大測量高度

285mm

240/360/400mm

180/520mm

380/700mm

zui大允許誤差 (CT傳感器(qi))

(4,5+L/75) µm

(1,5+L/500) µm

(4,5+L/75) µm

(4,5+L/75) µm

zui大允許誤差(cha)(E1:單軸精度)

(2,5+L/120) µm

(0,5+L/900)µm

(2,5+L/120) µm

(2,5+L/120) µm

     (E2:平面精度(du))

(2,9+L/100) µm

(0,7+L/600) µm

(2,9+L/100) µm

(2,9+L/100) µm

   (E3:空(kong)間精(jing)度)

(4,5+L/75) µm

(1,5+L/500) µm

(4,5+L/75) µm

(4,5+L/75) µm

X射線源(yuan)可(ke)選(xuan)

130/150/190kV

130/150/190/225kV

225/300/320kV

225/300/320/450kV

X射線探測器像素

1024x1024

1024x1024

2048x2048

2048x2048

X射線探(tan)測器尺寸

50x50mm

50x50mm

200x200mm

400x400mm

分辨率

0.1µm

0.1/0.01µm

0.1µm

0.1µm

定位速度(du)

150mm/s

60mm/s

150mm/s

150mm/s

加速度(du)

300mm/s2

250 mm/s2

350 mm/s2

350 mm/s2

工作臺(tai)承重

2kg

10kg

40kg

40kg

電源

230V +/-10%

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

3x400V/N/PE

氣壓(ya)

7-10bar

7-10bar

7-10bar

7-10bar

儀器自重

3000kg

6000kg

11000kg

13000kg

1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617,使用(yong)TP200, WFP測量或(huo)CT傳感器選擇同等(deng)及更(geng)高(gao)精(jing)度探(tan)針修(xiu)正或(huo)光學傳感器選用(yong)同等(deng)及更(geng)高(gao)精(jing)度探(tan)針修(xiu)正
2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg

 

X射線穿透能力:
 Werth有的用于高精度(du)、高分(fen)辨(bian)率測(ce)量的穿透型標靶(ba)射線(xian)源。此標靶(ba)在(zai)高管電(dian)壓(ya)(如300KV)和大管電(dian)流的情況下能夠長時間(jian)穩定地保持微米級(ji)的焦(jiao)點尺寸,這樣就(jiu)能用微米焦點的X射線快(kuai)速的高精度、高分辨率進行測量高密(mi)度(如鋼)較大尺寸的零件。

 

      高精度工業CT的(de)復合測量,特別是在金屬、陶瓷(ci)、復合材料(liao)的(de)測量具(ju)有很大的(de)優勢,我(wo)們(men)也(ye)可提(ti)供(gong)付費(fei)測量服務(wu),具(ju)體(ti)可咨(zi)詢我(wo)們(men)銷售(shou)。

 應用實(shi)例:

TomoScope X射線坐標測量機


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