| 型 號： | NanoScan |
| 所屬分類： | HOMMEL粗糙輪廓度儀 |
| 報 價： | 市場價: |
德國HOMMEL NanoScan高(gao)精密粗糙(cao)輪廓度測量儀
霍梅爾NanoScan高精密粗糙輪廓(kuo)度(du)測量儀可以在一個測量流程內組合測量粗糙度(du)和輪廓(kuo)，柔性(xing)大，能夠(gou)滿足表面測量技術(shu)的所有需求，既省(sheng)時，又省(sheng)費用(yong)。
| 技術特點 | 主要特點 |
| ?電(dian)子測(ce)頭臂識別技術(shu) | ?超精密的光機探(tan)測系統 |
| ?探測頭的(de)電子保護裝置(zhi) | ?通用性好 |
| ?電子(zi)調節(jie)探測力 | ?極富人性化的設計 |
| ?高精度的測(ce)頭臂(bei)定位(wei) | ?測頭臂的選擇范圍廣 |
| ?可上下測(ce)量 | ?創新的(de)技術 ?校準方法(fa)簡(jian)單 ?新的(de)評價可能：可上下(xia)測量，測量工件表(biao)面形貌時(shi)的(de)測量行程大 |
校準方法 |
帶電子識別功能的測頭臂支(zhi)架 由于使(shi)用了磁性測(ce)頭臂支架，所(suo)以測(ce)頭臂的更換迅速(su)可(ke)靠 |
可上下測量 測(ce)頭臂安(an)裝了雙探測(ce)頭，所以(yi)一次(ci)運(yun)行可上下(xia)探測(ce) |
| 選項 | 供貨范(fan)圍 |
?用于(yu)特殊測(ce)量需求的粗(cu)糙度和輪(lun)廓測(ce)頭(tou)臂(bei) ?經過認證的(de)qs-STAT接(jie)口（AQDEF）。 ?輪廓(kuo)標準塊KN8 ?可保護(hu)測量系(xi)統(tong)免受環(huan)境影響的(de)護(hu)罩
| ?帶(dai)22"TFT顯示屏的評價(jia)電腦，CD刻錄器，粗糙度和輪廓測量評價(jia)軟件 ?具有自動保(bao)存功能的PDF打印(yin)機 ?wavecontrol™basic操作面板 ?包含3個帶金(jin)剛石探測頭(tou)(tou)或紅(hong)寶石測頭(tou)(tou)的測頭(tou)(tou)臂 ?粗糙度標準塊RNDH2 ?用于(yu)緊固工(gong)件的測量臺MT1 XYO ?校準(zhun)用球形標(biao)準(zhun)件
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| 型號 | NanoScan855 |
| 測量范圍(wei) | R+C：24/48mm |
| zui小分辨率 | R+C：0.6/1.2nm |
| 水平(ping)測量(liang)范圍/水平(ping)分辨(bian)率 | 200mm/0.01μm |
| 測量立柱行程 | 550mm |
| 硬巖石板(ban) | 850x600mm |
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