探測全面-由于采用了無導頭探測系統，所以可移動測量所有常見的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數

定位自動-配置了電動測頭降低系統，所以測頭可自動在工件表面定位和提起

測量靈活-內置蓄電池，所以使用時不需外接電源，盡顯移動測量的靈活性

信息廣泛(fan)-可顯示特性參數，微觀輪廓圖形、支撐率曲線和統計數據

操作簡單-通過配置上下文提示功能鍵的觸摸屏，操作簡單

記錄方便-集成了打印機，可及時記錄測量結果文件，方便簡單

測量(liang)可靠-通過內置標準粗糙度標準塊，可及時檢測測量儀，保證了測量的可靠性

Waveline™20給進單元，用于粗糙度和波紋(wen)度的精密測量(liang)

    集成(cheng)啟動(dong)按鈕，可單手操作

    配置(zhi)高精密導軌，可對直線度和波紋度進行精密測量

    具有不同測量速度

   ; 可測(ce)量(liang)所(suo)有位置（還可仰測(ce)）

    無導頭(tou)型測(ce)頭(tou)范圍(wei)廣，可(ke)針對不同應用情況

測頭自動(dong)下沉

   測頭在工件表面自(zi)動定位并自(zi)動調整所選的測量范圍

   測量結束時(shi)(shi)測頭(tou)自(zi)動(dong)抬(tai)起，可在換工(gong)件(jian)時(shi)(shi)免(mian)受損壞

通過觸摸屏完(wan)成上(shang)下文(wen)提示操作

8個測(ce)量程序(xu)

針(zhen)對(dui)4個基本(ben)功能的功能鍵

可評(ping)價(jia)所(suo)有常(chang)見的(de)粗糙度、波(bo)紋度和原始(shi)輪(lun)廓特性參數

公差評估(gu)的可(ke)能(neng)性廣

通過(guo)觸摸屏快(kuai)速且舒適輸入其他數據

清晰顯示測量結果：特性參數(shu)、輪(lun)廓線(xian)圖(tu)形、交互支撐率曲線(xian)、廣(guang)泛(fan)的(de)統計功能

Waveline™20測量站(zhan)

   能使移動式(shi)W20變成完(wan)整(zheng)的固定式(shi)測(ce)量(liang)站

   帶T型槽(cao)的石(shi)板(ban)規(gui)格400X280mm

   高度可調范(fan)圍300mm

   回轉裝置的回轉范圍：±45°

   可選配測(ce)量平臺和其(qi)他附件